2010年11月 - LSIテスティングシンポジウムに出展

TOOL社は、第30回 LSI テスティングシンポジウム（LSITS）の商業展示ブースに弊社OASIS データハンドリングソフトウェア「OASIS-Utility」、およびレイアウト表示プラットフォーム「LAVIS」を出展いたします。 また、これに合わせてコマーシャル講演も行います。。

LSI テスティングシンポジウムは、LSI のテスティング技術に関し、設計、プロセス、テスト、診断、解析、および設計・製造・テスト装置分野の研究者が一堂に会し議論する場を提供することを目的として、開催されています。

   OASIS-Utility
   レイアウト設計データのサイズ肥大化に伴い、データの移動や転送、故障解析にますます時間を
   要するようになってきています。本出展では、データの移動/転送時間の大幅な短縮を実現する
   OASIS-Utility のファイル圧縮技術を中心にご紹介します。

   LAVIS
   等電位追跡機能を活用した抵抗値計算や分岐箇所検出、接続状態による色分け表示、Voltage
   Contrast の再現など、故障解析作業の効率化に有用な様々な機能をご紹介します。
   また、新たに搭載されるバッチ処理による等電位追跡機能により、追跡結果をさらに高速に追跡、
   表示、確認することが可能になりますので合わせてご覧ください。

ご多忙のことと存じますが、皆様のご来場をお待ちいたしております。

デモのご予約はこちら>>

• シンポジウム         11月10（水） ～ 12日（金）　
• 商業展示          　  11月11（木）、12日（金） 10:00 ～ 17:00 
                            ブース番号 7
• コマーシャル講演   11月11日（木） 11:00 ～ 11:08 
                            ソフトウェア「OASIS-Utility」、「LAVIS」を用いた故障解析支援                    
• 会 場                   千里ライフサイエンスセンター （大阪府豊中市）