2009年12月 - Electronic Design and Solution Fair 2010に出展

EDSFair2010のTOOL社ブースでは、設計から検証、製造、検査にいたるさまざまな工程で活用できる視覚検証ツール、「LAVIS」と、GDSやテキストデータとの相互変換やOASISデータ加工など、豊富な機能を備えたモジュール群で構成されたOASISデータハンドリングツール、「OASIS-Utility」をご紹介します。

LAVISは、業界最高水準のレイアウトデータの高速表示に加え、演算機能による複数データの比較、min/max widthやダブルビアのチェック、メタルの被覆率計算など、簡易DFMチェッカーとしてご活用いただける機能を数多く搭載しています。さらに、故障解析の用途や、他社製DRC/LVSツールとの柔軟なインターフェースによるデバッグ用途などとしてもお使いいただけます。本展示会では、ブースでのデモ（ご予約はこちら）に加え、LAVISを最大限に活用することで、設計コストの削減やTATの短縮が実現できることを、お客様の適用事例とともにご紹介する出展者セミナーもご用意しています。

また、OASIS-Utilityは、GDSデータの大規模化にともないOASISデータへの移行が急務となるなか、フォーマットチェックや不正図形チェックなどの煩雑な作業を効率的かつ高速に行うことのできるユーティリティソフトです。チェック結果はLAVISを用いて視覚的に確認することも可能です。

さらに、弊社製品群とお客様固有の仕様との融合や、お客様のご要望に応じたプログラムの開発サービスにつきましてもご紹介いたしますので、お気軽にご相談ください。

なお、アンケートにお答えいただいたお客様には素敵な景品がその場で当たるおみくじをご用意しています。
皆さまのご来場をお待ちいたしております。

• 日 時     1月28日（木）、1月29日（金）   2日間
              10:00 ～ 18:00
• 会 場     パシフィコ横浜
              ブース番号 312