2009年10月 - LSIテスティングシンポジウムに出展

TOOL社は、第29回 LSI テスティングシンポジウム（LSITS）の商業展示ブースに弊社レイアウト表示プラットフォーム、「LAVIS」 を出展いたします。また、これに合わせてコマーシャル講演も行います。

LSI テスティングシンポジウムは、LSI のテスティング技術に関し、設計、プロセス、テスト、診断、解析、および設計・製造・テスト装置分野の研究者が一堂に会し議論する場を提供することを目的として、開催されています。

LAVIS が持ち合わせている等電位追跡を活用することで、解析に時間を要する故障推定ネットにおける不良ノードの絞り込みや、故障箇所の特定などの作業の容易化を図ることができます。また、３次元表示（オプション）、画像貼り付けなどの豊富な機能群を合わせて活用することにより、製造工程で発見される諸問題を設計の早期段階で発見、分析し、適切な対処を行うことが可能となります。また、各種装置との連係により、確度の高い解析を円滑に行うことができます。

シンポジウムを通じて、本分野におけるLAVIS の有効性をご紹介いたしますので、ぜひご活用ください。 ご多忙のことと存じますが、皆様のご来場をお待ちいたしております。

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• シンポジウム         11月11（水） ～ 13日（金）　
• 商業展示          　  11月12（木）、13日（金） 10:00 ～ 17:00 
                            ブース番号 1
• コマーシャル講演   11月12日（木） 10:30 ～ 10:38 
                            （C1） LSI 設計支援ソフトウェア、「LAVIS」による設計エラー解析
                            講師 : 営業部 平井一寛    
• 会 場                   千里ライフサイエンスセンター （大阪府豊中市）